数据中心CWDM4传输技术是什么?( 二 )


将AWG技术引入数据中心的CWDM4传输系统 , 波长间隔增加至20nm , 技术难点降低了 , 但为了集成到QSFP28模块中并规模应用 , 对AWG芯片的尺寸和成本约束要严苛得多 , 目前主流的CWDM4AWG芯片 , 尺寸可以控制在2mm×10mm以内 。 最早的CWDM4AWG芯片 , 输入/输出端口位于两端 , 如图4所示 。 为了便于绕纤并集成于光纤收发模块中 , 人们开发了单侧输入/输出的CWDM4AWG芯片 , 通过弯曲波导将输入端口绕至输出端 , 如图5所示 。 这样的设计 , 也进一步简化了波导与光纤阵列之间的耦合工艺 。 当然 , 由于芯片宽度有限 , 波导弯曲半径小于1mm , 会引入一定的弯曲损耗 。

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图4.CWDM4AWG芯片结构—两侧输入/输出

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图5.CWDM4AWG芯片结构—单侧输入/输出
一个CWDM4光纤收发模块中 , 需要两个CWDM4AWG芯片 , 一个用于光信号的复用发射 , 另一个用于光信号的解复用接收 。 发射端的CWDM4AWG芯片目前主要采用图5所示的单侧输入/输出结构 , 而在接收端 , 解复用的各个波长终将被光探测器检测 , 无需耦合到单模光纤中继续传输 。 为此 , 接收端CWDM4AWG芯片通常采用图4所示的两侧输入/输出结构 , 输出端口采用多模光波导 , 并将输出端面抛光成45°斜面 , 实现光束的90度转折 , 入射在光探测器阵列上 , 后者被直接贴装在PCB板上 。
这种设计有两点好处 , 其一采用多模波导输出 , 可以实现AWG通带谱线的平坦化设计 , 优化信道质量;其二输出光经90度转折后直接入射光探测器阵列 , 省去了波导阵列与光纤阵列之间的对接耦合 , 简化了组装工艺 。
3)梳状滤波器技术
采用集成光学技术的CWDM4AWG芯片 , 相对于Z-block技术 , 尺寸减小 , 并且装配工艺大大简化 , 有利于降低成本 。 但是AWG器件的通带平坦度不好 , 信道质量劣化 , 并且损耗比Z-block大得多 。
有厂商将电信网中的光学梳状滤波器ITL技术引入数据通信 , 图6所示为基于集成光学技术的光学梳状滤波器 , 它是由数个级联的MZI干涉臂组成的 。 实际上 , 电信网中的光学梳状滤波器 , 主要面向DWDM应用 , 考虑温度稳定性 , 通常采用GTI谐振腔或者双折射晶体方案 , 集成光学梳状滤波器无法满足实用条件 。

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图6.基于集成光学技术的光学梳状滤波器
但CWDM4传输系统的信道间隔是20nm , 对温漂的容差较大 , 因此可以采用集成光学梳状滤波器 。 注意图6中的MZI干涉臂 , 通过弯曲波导实现光程差 , 而波导弯曲会产生损耗 。 光波导可避免产生弯曲损耗的最小弯曲半径 , 取决于波导的折射率差 , 为了减小弯曲半径以缩小芯片尺寸 , 现有供应商采用的是氮化硅波导 。 然而 , 折射率差越大的光波导 , 良率会受影响 , 并且与光纤的耦合损耗会增大 。
光学梳状滤波器是一种1×2端口器件 , 为了实现1×4波分复用/解复用 , 需要通过三个梳状滤波器串并联来实现 , 如图7所示 , 其中ITL#1的波长间隔是20nm , ITL#2和ITL#3的波长间隔是40nm 。

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图7.由三个光学梳状滤波器ITL串并联而成的CWDM4芯片
CWDM4系统中的光学梳状滤波器和AWG均采用集成光学技术 , 前者具有更低的损耗和更好的信道质量 , 但良率稍低 。
3.CWDM4技术对比
Z-block、AWG和ITL三种CWDM技术方案 , 各自的优缺点对比 , 如表1所示 。
对比可知 , Z-block技术具有损耗低和信道质量好的优点 , 基于Z-block技术的CWDM4模块 , 甚至能支持100G信号传输10公里 。 但是该技术的工艺难度高 , 造成成本居高不下 。 AWG技术的损耗最大 , 信道质量最差 , 但工艺难度和成本最低 , 满足数据中心市场降成本的诉求 , 正在逐步替代Z-block技术的市场 。 ITL技术具有媲美Z-block技术的信道质量 , 损耗也比AWG小得多 , 组装工艺难度与AWG相当 , 目前的问题是芯片良率偏低 , 如这个问题得到解决 , 将是最好的CWDM4解决方案 。
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